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  • No : 2642
  • 公開日時 : 2018/11/30 17:16
  • 更新日時 : 2018/12/12 17:33
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【TI:プロセッサ】 AM335x デバイス寿命の信頼性データについて

①AM335xのデータシート;5.3 Power-On Hours (POH)に記載の
 信頼性データ(Table 5-1. Reliability Data)について教えてください。

②デバイス寿命において温度条件との関係がある場合、それに該当する資料はありますか。
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回答

①Datasheet:Table 5-1. Reliability Data のLIFETIME(POH)は、
 推奨動作範囲内(–40°C to 105°C)で常に使用した場合の耐久時間(LIFETIME)です。
 ここで示している時間は、電源供給時間の累計であり、連続駆動時間ではありません。
 また、LIFETIMEを超えた時点で、デバイスの信頼性が著しく低下し始め、故障率が増加します。
 
②耐久時間(LIFETIME)と温度条件についての詳細は、下記ドキュメントを確認してください。
 ・AM335x Reliability Considerations in PLC Applications (sprabv9)

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