• No : 2642
  • 公開日時 : 2018/11/30 17:16
  • 更新日時 : 2018/12/12 17:33
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【TI：プロセッサ】 AM335x デバイス寿命の信頼性データについて

①AM335xのデータシート；5.3 Power-On Hours (POH)に記載の
　信頼性データ（Table 5-1. Reliability Data）について教えてください。

②デバイス寿命において温度条件との関係がある場合、それに該当する資料はありますか。
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回答

①Datasheet:Table 5-1. Reliability Data のLIFETIME(POH)は、
　推奨動作範囲内（–40°C to 105°C）で常に使用した場合の耐久時間（LIFETIME）です。
　ここで示している時間は、電源供給時間の累計であり、連続駆動時間ではありません。
　また、LIFETIMEを超えた時点で、デバイスの信頼性が著しく低下し始め、故障率が増加します。
 
②耐久時間（LIFETIME）と温度条件についての詳細は、下記ドキュメントを確認してください。
　・AM335x Reliability Considerations in PLC Applications (sprabv9)