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【TI：プロセッサ】 AM335x デバイス寿命の信頼性データについて
①AM335xのデータシート；5.3 Power-On Hours (POH)に記載の
信頼性データ（Table 5-1. Reliability Data）について教えてください。
信頼性データ（Table 5-1. Reliability Data）について教えてください。
②デバイス寿命において温度条件との関係がある場合、それに該当する資料はありますか。
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回答
①Datasheet:Table 5-1. Reliability Data のLIFETIME(POH)は、
推奨動作範囲内（–40°C to 105°C）で常に使用した場合の耐久時間（LIFETIME）です。
ここで示している時間は、電源供給時間の累計であり、連続駆動時間ではありません。
また、LIFETIMEを超えた時点で、デバイスの信頼性が著しく低下し始め、故障率が増加します。
推奨動作範囲内（–40°C to 105°C）で常に使用した場合の耐久時間（LIFETIME）です。
ここで示している時間は、電源供給時間の累計であり、連続駆動時間ではありません。
また、LIFETIMEを超えた時点で、デバイスの信頼性が著しく低下し始め、故障率が増加します。
②耐久時間（LIFETIME）と温度条件についての詳細は、下記ドキュメントを確認してください。
・AM335x Reliability Considerations in PLC Applications (sprabv9)
・AM335x Reliability Considerations in PLC Applications (sprabv9)